二手 THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Verios G4 #293800547 待售
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ID: 293800547
優質的: 2020
Extra High Resolution Scanning Electron Microscope (XHR SEM)
R560 P/N: 1130751 SE Detector
P/N: 1127809 Plasma cleaner
Load lock
Operating system: Windows 7
PC
2020 vintage.
FEI與PHILIPS和THERMO FISHER SCIENTIFIC合作推出了THERMO FISHER SCIENTIF/PHILIPS/FEI Verios G4掃描電子顯微鏡（SEM），代表了高分辨率成像和分析能力的最新進展。FEI Verios G4旨在為研究人員提供一個強大的工具，以卓越的清晰度和精確度調查納米級結構和材料。飛利浦Verios G4 SEM的關鍵特性之一是其超高分辨率功能，提供亞納米成像和分析性能。這是由一個場發射槍（FEG）電子源，它提供高聚焦電子束具有優越的亮度和穩定性的摻入成為可能。Verios G4能夠產生具有特殊細節和對比度的圖像，使研究人員能夠以原子尺度可視化和分析樣品。THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4配備了先進的檢測系統，能夠實現各種成像和分析技術。它具有用於高信噪比成像的通用Everhart-Thornley探測器（ETD）,以及用於表面敏感成像的束內二次電子（IB-SE）探測器。此外,THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4還提供了能量色散X射線光譜（EDS）和電子反向散射衍射（EBSD）選項,用於樣品的元素分析和晶體學表征。在性能方面,FEI Verios G4 SEM針對高吞吐量和生產率進行了優化。它具有快速光束掃描系統，能夠在用戶幹預最少的情況下快速采集和映射大樣本區域。SEM還集成了復雜的自動化和圖像處理軟件,從而簡化了數據分析和解釋的工作流程。PHILIPS Verios G4采用用戶友好的控制和直觀的軟件界面,便於操作和實驗。該系統配備了一系列成像模式，如高分辨率成像、低壓成像、光束減速成像，以適應各種樣品類型和分析要求。SEM還提供高級圖像處理工具,用於圖像增強、量化和3D重建。Verios G4 SEM是為材料科學、生命科學、納米技術和半導體技術等領域的研究和工業應用而建造的一種健壯可靠的儀器。其高性能能力使其非常適合研究廣泛的樣品，包括納米顆粒、聚合物、生物樣品和半導體器件。最後，THERMO FISHER Scientific Verios G4掃描電子顯微鏡代表了納米級成像和分析的尖端平臺。THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4具有超高分辨率成像功能、通用檢測系統和用戶友好界面,為研究人員提供了一個以前所未有的清晰度和細節探索微觀世界的強大工具。
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