二手 TOPCON ABT-32 #9259781 待售
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ID: 9259781
Scanning Electron Microscope (SEM)
With BSE detector
Secondary electron detector
Water chiller for diffusion pump
Mechanical roughing pump
Power supply for BSE detector
I-XRF 550i Micro analysis system.
TOPCON ABT-32是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料科學和質量控制的廣泛用途。它具有先進的二次電子（SE）檢測器，具有優越的信噪比和高分辨率成像能力。其設計允許對薄膜和亞微米級幾何形狀進行精確分析。ABT-32由一個大功率電子源、一個成像柱、微處理器、樣品支架和一個探測器陣列組成。它的電子源可以提供一定範圍的能量，從1到15千電子伏特（keV）。它的成像柱具有可調節的放大倍率視圖（MFOV）系統,可提供高達260倍的放大倍率,使您能夠專註於小至20 nm的細節。利用其專門設計的列內Z平衡，用戶可以快速調整分析的穩定性和速度。微處理器能夠以高達每秒10幀的速度分析16位圖像,從而可以對最大和最詳細的樣本進行高速分析。其樣品持有者可以容納各種樣本量和材料。而它的探測器更容易識別較小的粒子並收集精細的細節。它采用SE探測器對薄膜和亞微米幾何形狀進行精確分析，並采用次級和反向散射探測器對能量色散光譜（EDS）和X射線進行映射。TOPCON ABT-32的高級功能允許對各種材料進行詳細成像。其高效的掃描過程使得它非常適合薄膜和亞微米幾何形狀的詳細分析，確保了最高精度和精度。ABT-32具有各種檢測器和方便的樣品支架，是任何材料科學和質量控制應用的理想工具。
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