二手 TOPCON ABT-32 #9293066 待售

製造商
TOPCON
模型
ABT-32
ID: 9293066
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON ABT-32是TOPCON公司生產的掃描電子顯微鏡(SEM)。此模型是一個中級SEM,提供高分辨率成像性能和出色的分析能力。該設備包括一個先進的數字成像系統、一個最大圖像質量的六硼化移場發射源、一個通用的自動化標本級以及一系列附件。ABT-32能夠成像納米級的樣品,最大分辨率為1.2納米。內置數字成像單元提供精湛的圖像清晰度,並配有2.8 MP CCD相機,為用戶提供一系列成像模式,包括明場、暗場、反向散射電子成像(BEI)和二次電子成像(SEI)。自動化的樣本階段允許用戶對樣本的大面積進行成像,或者將註意力集中在特定區域上。該機器還包括一個用於元素分析的自動化光譜儀。這包括一系列的超微分析技術,如能量色散X射線光譜(EDX)和X射線光電子光譜(XPS)。這一特征可用於定性和定量地鑒定樣品的化學成分。TOPCON ABT-32還與包括樣品支架和物鏡在內的一系列配件兼容。鏡頭選擇包括最小0.2 NA至最大5.0 NA的高數值光圈(NA)鏡頭。這些鏡頭可用於各種成像任務,如產生高放大倍率圖像或用於測量高分辨率細節。總體而言ABT-32這是一臺出色的中級掃描電子顯微鏡,提供出色的成像性能、多功能和出色的分析能力。SEM適用於工業、學術界和研究領域的廣泛應用,也適用於教育領域。
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