二手 TOPCON DS 720 #9407852 待售

製造商
TOPCON
模型
DS 720
ID: 9407852
Scanning Electron Microscope (SEM) Loader Power supply Operation rack (3) Monitors Beamline RF rack.
TOPCON DS 720是一種掃描電子顯微鏡(SEM),提供各種樣品材料的高分辨率成像和分析。該儀器非常適合各種分析任務,從納米級成像到冶金表面分析。DS 720利用肖特基場發射(FEI)電子源,允許對樣品材料進行高分辨率成像。這種電子源非常穩定和均勻,可以改善記錄圖像中的信噪比。此外,TOPCON DS 720還具有可變壓力成像室,允許對樣品施加一定範圍的壓力。這種可變壓力系統允許在許多不同的大氣條件下成像,這取決於所成像樣品的類型。此外,該儀器的野外發射槍包括一個有源溫度和發射電流穩定系統,有助於進一步降低任何成像噪聲。DS 720提供了極為廣泛的放大倍率設置,最大可達20,480倍。這在進行分析時提供了很大程度的靈活性。這種電場和磁場引導柱由一系列閉環控制系統驅動,在改變設置時允許精度。此外,在各種設置下,該列的效率都很高,鏡像功能針對中端放大倍數進行了優化。此外,該設備還配備了STEM探測器,設計用於納米級成像。這臺儀器還能夠使用各種元素分析技術,如能量色散X射線光譜(EDS)和俄歇電子光譜(STEM-AES)。利用這些工具,用戶可以快速準確地分析其樣品材料的元素組成和結構。TOPCON DS 720為用戶提供了一個功能極其強大的設備,用於各種分析和成像任務。先進的控制系統和成像系統允許以納米分辨率對材料進行詳細分析和成像。該工具還可以使用各種元素分析技術,從而進一步擴展其分析能力。DS 720是研究和工業應用的絕佳選擇。
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