二手 TOPCON MI-3080 #9150383 待售

TOPCON MI-3080是一種多模掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和分析各種樣品材料。這種尖端儀器除了具有低壓環境電鏡（E-SEM）外，還具有低真空和高真空掃描電子顯微鏡（SEM）兩種功能。集成的數字電子設備使其具有高度的通用性,適用於從基本成像到各種復雜3D分析的各種應用。該設備擁有數字成像系統,可實現高清晰度成像,分辨率高達2納米,聚焦深度高達0.8海裏。MI-3080靈活的設計和先進的波紋管型級允許對尺寸達300 mm x 290 mm的標本進行平滑成像。此外，該單元被設計為人性化，因此即使是新手用戶也可以快速啟動和運行。對於高級分析,TOPCON MI-3080具有廣泛的功能。該儀器包括具有中低電壓成像能力的反向散射電子（BSE）檢測。它還附帶了低壓模式下的BSED、中壓模式下的SE反向散射成像、中低電壓下的氣態檢測器二次電子成像（GADSEI）等一系列成像技術。在元素分析方面，MI-3080配備了一系列探測器，包括具有4K頻譜分辨率的能量色散X射線（EDS）機和用於高分辨率元素映射的波長色散X射線（WDS）工具。這些檢測可用於執行各種元素分析，如相位分析、成分映射和晶粒尺寸成像。此外，該儀器與幾個附件兼容，包括一個用於離子和電子柱分析的帶電粒子檢測器以及一系列額外的軟件工具。這為廣泛的3D分析提供了卓越的功能,例如分析FIB-SEM（聚焦離子束-掃描電子顯微鏡）、EBSD（電子反向散射衍射）和3D打印。總體而言,TOPCON MI-3080是一種先進的多模式SEM,旨在實現對各種樣品材料的高分辨率成像和分析。全面的映像功能、通用的資產設計和高級分析功能使其非常適合廣泛的應用。