二手 TOPCON SM 300 #293628530 待售

製造商
TOPCON
模型
SM 300
ID: 293628530
Scanning Electron Microscope (SEM) With coater Operating system: Windows 95.
TOPCON SM 300是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於提供金屬、陶瓷、復合材料等樣品的高分辨率成像和分析。SM 300具有較大的腔室容量,允許用戶根據分析需要,從生物樣品快速切換到電路板或其他大型物品。儀器用電子束掃描樣品並收集二次電子,然後將二次電子作為圖像顯示在集成顯示器上。可以通過調整光束角度、放大和縮小、平移和旋轉圖像以及改變圖像的亮度、對比度和顏色來操縱此圖像。TOPCON SM 300配備了使用可變壓力室優化成像參數的先進成像系統。此高級成像系統(AIS)為用戶提供了對樣品周圍環境的精確控制,並通過精確控制溫度、濕度和其他參數提供了良好的成像條件。SM 300具有高分辨率探測器和強大的分析能力。它提供精確的自動圖像縫合功能和精確的3D成像功能。這使用戶能夠精確測量精確的曲面特征和結構,直至亞微米級。此外,該儀器能夠進行X光束元素分析,並能夠檢測和識別無限數量的元素。光譜映射也可以與儀器配合使用,允許使用者對一個樣本的元素組成進行映射和分析,這可以提供對一個材料的組成和結構的重要洞察。最後,TOPCON SM 300配備了多項自動圖像處理和操作功能,允許用戶從圖像中自動移除偽影、模糊邊緣、調整亮度和對比度、對粒子進行分類、過濾噪聲或創建3D模型。該儀器還能夠進行微觀分析,允許用戶測量樣品中元素的精確比例。總體而言,SM 300是一種高分辨率掃描電子顯微鏡,能夠廣泛的應用。它非常適合研究、工業和教育用途,提供高質量的成像、精確的自動成像縫合功能、強大的分析功能以及各種自動化的圖像處理和操作功能。TOPCON SM 300是任何需要精確成像、元素分析和微觀分析的實驗室的理想選擇。
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