二手 TOPCON SM 300 #293731787 待售

TOPCON SM 300是一種掃描電子顯微鏡（SEM），對幾乎任何物質的微觀結構提供了令人難以置信的詳細視圖。SEM利用超高能電子束生成樣品圖像。電子與樣品表面相互作用，包含二次電子、反射電子、反向散射電子和X射線。反向散射電子（BSEs）通過閃爍體收集，然後聚焦到熒光屏上，然後由電荷耦合器件（CCD）相機檢測圖像並以數字方式存儲。SM 300配備了Magnelli鏡頭，可提供高達3000X的放大功率。Magnelli透鏡由物鏡和二次電子探測器之間的三個起伏器和兩個極點片組成的陣列組成，創造出更高分辨率的圖像。Magnelli鏡頭還采用了雙聚焦設計，可以在不需要物理操作的情況下生成二維圖像。TOPCON SM 300還配備了高靈敏度像素檢測系統，使其能夠檢測樣品中非常微妙的結構特征。這項尖端技術使科學家能夠以前所未有的細節查看樣品。SEM還有一個高度敏感的電子控制系統，能夠監測和調整顯微鏡的設置。這個先進的系統允許精確調整用多少能量向標本射出電子束。這對於確保掃描時樣品沒有損壞非常重要。SM 300能夠在不使用物理工具的情況下精確測量樣品的地形，以及對樣品厚度和粗糙度進行精確測量。總體而言,TOPCON SM 300是一款功能強大得令人難以置信的電子顯微鏡,可提供前所未有的樣品視覺細節。它幾乎能夠測量樣品的任何定性或定量特性，同時確保被掃描物品的安全性。這項最先進的技術只有通過TOPCON工程團隊的尖端創新才有可能實現。