二手 TOPCON SM 300 #9119621 待售

TOPCON SM 300
製造商
TOPCON
模型
SM 300
ID: 9119621
Scanning electron microscope (SEM).
TOPCON SM 300是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在為各種樣品提供高分辨率成像能力。該設備配備了高性能的電子光學設備,能夠對0.5nm至1,000 nm分辨率的微結構進行詳細的觀察和分析。它利用場發射槍(FEG)產生聚焦電子束,結合真空室和兩級冷凝器透鏡系統,用於高達300千伏的超高加速度電壓。檢測器單元由二次和反向散射電子檢測器組成,為成像信息提供高信噪比。它還允許操作員使用多種成像技術,如成分對比、表面成像和3D斷層掃描。此外,高級映像軟件通過其直觀的界面簡化了操作,並允許創建用於插圖和文檔的單索引、多索引和彩色索引圖像。SM 300具有多種自動化功能,包括具有10nm精度的電動舞臺、可調至300 mm的Z高度,以及由腳開關控制的延伸航向。此外,該機器還允許易於安裝和更換檢測器、照相機和光學元件,從而為各種應用提供靈活性。此外,該工具的設計和認證符合各種安全標準,包括接地導體,用於連接外部ESD資產。此外,SEM采用環境密封防止腐蝕性和反應性氣體及蒸氣進入,而樣品室則配備加熱和冷卻模型,以確保長時間運行,而無需人工幹預。總之,TOPCON SM 300是一種高性能的SEM,旨在對高達1,000納米分辨率的樣品進行深入分析。它包括各種功能,使其操作最大化,並確保用戶的安全。對於需要精細成像功能和易用性相結合的用戶來說,它是理想的設備。
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