二手 TOPCON SM 300 #9220578 待售

製造商
TOPCON
模型
SM 300
ID: 9220578
Scanning Electron Microscope (SEM) PRINCETON GAMMA TECH / PGT Prism 2000 OPI023-1033 EDS Detector Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy Resolution: 3.5 nm Magnification: 20x to 300,000x Image display: SEM (SE, BSE) Image format: TIFF / BMP Image resolution: 1280 x 960 Image processor: Recursive filter Specimen stage: TXYRZ Encentric Specimen size: Maximum 125 mm diameter Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV PC Controller Operating system: Windows.
TOPCON SM 300是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在以卓越的精度提供卓越的成像。它利用電子光學和掃描級技術,以顯著的清晰度產生小物體的高分辨率圖像。SM 300可提供多種放大倍率,從5倍開始,最大可擴展到300,000倍。它能夠產生具有非常精確的景深的圖像,以納米分辨率細化特征。這一特點使得它能夠在原子層面成像,從而能夠對各種材料進行詳細的檢查和分析。TOPCON SM 300使用的電子槍經過能量過濾,使研究人員能夠操縱電子束的能量產生更高質量的圖像。此特征可用於獲取更高層次的細節,從而能夠檢查諸如表面微觀結構和晶界等小規模特征。SM 300利用高靈敏度探測器,能夠探測小到10到100皮米的粒子。這使得研究人員能夠以非常高的精確度區分特征,並獲取有關其樣本的定量信息。該單元還具有自動圖像處理機制,使研究人員能夠快速準確地評估從掃描儀獲得的數據。該單元還配備了一個高分辨率級,能夠對樣品進行循環掃描,從而能夠在短時間內獲取大型圖像。TOPCON SM 300還能夠在大樣本區域繪制非常小的特征,將其應用擴展到多維研究。它配備了強大的自動化數據分析系統,使研究人員能夠快速對樣本進行分析和評估。從SM 300獲得的細節可以很準確地評價樣品的形態、組成和結構。此外,還可用於納米級材料的研究,以及各領域新材料性質的研究。
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