二手 TOPCON SM 300 #9392715 待售

製造商
TOPCON
模型
SM 300
ID: 9392715
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON SM 300是一種掃描電子顯微鏡,配備了先進的亮度和分辨率,使其能夠提供各種樣品的高放大倍率圖像。它具有獨特的超穩態真空室,可確保最佳成像氣氛,並最大限度地減少汙染的影響。SM 300配備了先進、健壯的場發射電子源,使其能夠獲得50 nm出色對比度和分辨率的圖像。它還具有多種成像模式,允許您捕獲靜止圖像、實時序列以及四維和三維圖像。TOPCON SM 300的空間分辨率可以通過使用特殊的冷凝器透鏡,通過調整散焦和樣品傾斜角來提高。這項技術使得能夠以高達10nm的分辨率捕獲樣品表面的信息。顯微鏡是由分析軟件驅動的,它可以讓你快速輕松地分析樣品。軟件可以創建帶有註釋的圖像、分析曲面特征和紋理、生成3D輪廓以及自動測量曲面特征。SM 300配備了強大的數據分析和可視化工具,如元素分析、自動粒子檢測、熱分析、鍵合分析等等。還可以為數據創建自定義的報告和分析。總體而言,TOPCON SM 300是一種通用可靠的掃描電子顯微鏡。憑借強大的設計、出色的亮度和分辨率以及強大的數據分析和可視化工具,它是眾多研究和測試實驗室的理想選擇。
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