二手 TOPCON SM 350 #9257166 待售
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ID: 9257166
Scanning Electron Microscope (SEM)
With EDX
PC Color monitor, 17"
Resolution: 3.5 nm
Double rate: 20x ∼ 300,000x
Acceleration voltage: 0.5 kV to 30 kV
Electron optics: 3-Stage lens system
Sample stage: Motor-driven stage, 5"
Fully automatic vacuum exhaust system with turbo pump
Major extensions:
X-Ray elemental analysis
Low vacuum observation
Optical microscope image display
2001 vintage.
TOPCON SM 350是來自TOPCON Precision Instruments的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高分辨率樣品的成像和分析。此模型提供了多種功能和特性,即使是最精細的細節也可用於成像。SM 350設計用於提供標本的高分辨率成像。它的設計特點是具有低壓場發射源,提供極長的電子源壽命長達5000小時,使樣品具有高對比度和長期成像能力。該SEM模型能夠在200 kV/3kV內運行,從而能夠對樣品進行準確分析。SEM具有環境掃描電子顯微鏡(ESEM)選項。此功能允許對高真空敏感的樣品成像,並因電子束照射而產生氣體。SEM可以在高真空或低真空模式下運行,為所選樣品提供最佳條件。TOPCON SM 350能夠偵測多種元素物種,包括C、O、S、N、H和元素分組如B、Cl、Si,它有兩個探測器;二次電子探測器和反向散射電子探測器,提供樣品的化學成分和表面地形信息。它還帶有一個CET(低溫能量傳遞)機器,它允許樣品特定的溫度調制。SEM非常易於使用:軟件界面方便用戶使用,並提供一系列映像選項和功能。它配備了一個自動化的階段,允許快速獲取多個標本和樣品準備。SM 350還允許輕松保存和恢復映像和分析設置。即使對於最小的樣品,TOPCON SM 350也能提供卓越的性能和圖像質量。憑借其創新的功能和高分辨率的成像,它為成像和研究應用提供了出色的工具。
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