二手 ZEISS Auriga 40 #293774090 待售

製造商
ZEISS
模型
Auriga 40
ID: 293774090
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Single GIS Charge Compensator Plasma Cleaner Nanomanipulator Detectors: STEM SESI InLens SE EsB.
ZEISS Auriga 40是一款尖端掃描電子顯微鏡(SEM),由著名顯微鏡解決方案領導者ZEISS設計制造。Auriga 40是一種多功能、高性能的儀器,為研究和工業領域的廣泛應用提供高級成像功能。ZEISS Auriga 40的核心是其創新的場發射電子源,它提供了高度相幹的電子束,具有出色的亮度和穩定性。這使得高分辨率成像具有優越的對比度和最小的光束漂移,使其成為具有復雜細節和精細結構的成像樣品的理想選擇。Auriga 40的關鍵特性之一是其先進的掃描能力,其中包括高速掃描和對電子束的精確控制。這使用戶能夠快速準確地獲取圖像,從而能夠在納米級對樣品進行詳細的可視化。ZEISS Auriga 40還提供了一系列成像模式,包括二次電子成像、反向散射電子成像和能量色散X射線光譜(EDS),它們提供了關於樣品組成和形態的寶貴信息。除了成像功能外,Auriga 40還配備了用途廣泛、用戶友好的軟件界面,可輕松控制和定制成像參數。該軟件還提供先進的圖像處理工具,用於分析和測量獲得的數據,使研究人員能夠從其樣本中提取有價值的信息。ZEISS Auriga 40具有高性能的標本級,具有多個運動軸,允許在成像過程中精確定位和操縱樣品。這對於研究具有復雜幾何形狀的樣本或進行需要實時樣本操作的現場實驗特別有用。Auriga 40的另一個關鍵優勢是與廣泛的樣品類型兼容,包括導電材料和非導電材料。這種靈活性使用戶無需特殊的樣品制備技術就可以對各種樣品進行成像,從而使蔡司Auriga 40成為廣泛應用的通用工具。此外,Auriga 40的設計考慮了用戶的便利性和安全性,具有一系列自動化功能和安全協議,可確保用戶和樣品的最佳性能和保護。該儀器還得到蔡司著名服務和支持網絡的支持,為客戶提供可靠的協助和維護,以確保蔡司Auriga 40的長期功能。總之,Auriga 40是一款最先進的掃描電子顯微鏡,提供卓越的成像功能、高級掃描選項、用戶友好的軟件界面、通用的樣品兼容性和可靠的性能。無論是用於學術研究、工業質量控制還是材料分析,ZEISS Auriga 40都是一個強大的工具,能夠以無與倫比的清晰度和細節為微觀和納米世界提供有價值的見解。
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