二手 ZEISS Auriga #9067317 待售
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已售出
ID: 9067317
優質的: 2011
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM)
GEMINI Optik with 0.1-30 kV Emission voltage
Resolution: Approximate 1.9 nm at 1 kV
In-lens secondary electron detector
Chamber secondary electron detector
Energy selective back scatter electron detector (ESB)
(2) Internal infrared CCD cameras
Cobra FIB pillar with low voltage option
Floodgate: 80 mm
BRUKER Quantax 800 EDX System
ZEISS STEM Detector retractable
KLEINDIEK Micro manipulator system
Includes:
Gas injection system (Platinum, carbon)
OXFORD INSTRUMENTS XMAX 51-XMX0085 Electron beam, 31"
Electron beam
Iron beam (FIB)
Pumps
TEM Detector
Secondary electron detector
Load locker
Vacuum pump
Chiller
(3) HEWLETT-PACKARD COMPAQ LA1951g Computer screens
KLEINDIEK Nanotechnik needle system
ZEISS Controller
ZEISS Keyboard / Controller
Anti vibration table
Auxiliary chiller
Vacuum pump
Computer
(2) Screen joysticks
Transportation-locks
Accessories
CE Marked
Power supply: 230 V, 50/60 Hz
2011 vintage.
ZEISS Auriga是一種掃描電子顯微鏡（SEM），能夠對多種材料進行高分辨率成像、元素組成和表面分析。Auriga配備了獲得專利的二次電子探測器，提供高接受角度，加上其大信噪比，用於優越的原子和納米成像。它可以生成高達1.3納米（nm）的電子圖像。ZEISS Auriga的成像特性導致了出色的對比度和無與倫比的細節水平。Auriga還配備了能夠進行元素分析的牛津儀器EDX探測器。這可用於收集各種應用的材料組成數據。ZEISS Auriga的EDX功能通過其能量色散X射線微分析（EDXMA）軟件得到進一步增強，該軟件允許用戶使用高級功能處理和分析他們的數據。在表面分析方面，Auriga配備了原位AFM。這允許對各種材料進行地形圖繪制以及表征表面粗糙度、粒度和機械性能。該工具的高分辨率也允許分析納米結構，如量子點。總體而言,ZEISS Auriga是一款出色的SEM,提供高分辨率成像、元素組成和表面分析功能,所有這些功能都可用於多種材料。該工具的靈活性允許廣泛的應用，使其成為任何實驗室的絕佳選擇。
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