二手 ZEISS Crossbeam 1540 EsB #9314992 待售

ZEISS Crossbeam 1540 EsB掃描電子顯微鏡（SEM）是為研究、工業和生命科學應用而設計的高性能平臺。它配備了包括雙軸偏轉器和二次電子檢測器的檢測器封裝，用於非常高的分辨率成像。此外，該設備還與先進的自動化樣品準備和導航以及通過內置的蔡司WorkSpace軟件控制的電子束成像和分析系統集成在一起。SEM的電壓範圍為0-30 kV,加速電壓高達15kV,允許成像樣品厚度高達500 μ m。樣品室可容納200公斤重量，並具有自動和可編程壓力、冷凍制備和真空泵等特點。探測器單元包括高分辨率、能量過濾成像、反向散射電子成像和EDS（Energy Dispersive Spectroscopy）。電子光學器件配有三個偏轉線圈，在二次電子模式下提供高達6 nm的分辨率，在STEM（掃描透射電子顯微鏡）模式下提供高達0.7 nm的分辨率。Crossbeam 1540 EsB SEM具有自動幻燈片傳輸、3軸采樣級、6軸采樣級和桌面采樣機械手等示例導航和操作功能。導航機效率高,具有先進的用戶界面,允許手動對齊、導航和聚焦。SEM還配備了一整套自動化選項,例如自動樣本搜索、對齊和分析/報告功能,從而實現了較高的樣本吞吐量。為方便起見，顯微鏡內置了自動粒徑和形態分析、自動樣品裝卸、雙軸電動電子束壓力掃描儀等功能。此外，SEM還包括高達200千克的階段性負荷以及一套可靠的數據報告和統計分析工具，以便取得可靠和一致的結果。ZEISS Crossbeam 1540 EsB SEM是一種用途廣泛、功能強大的成像和分析各種樣品的工具。它為研究人員和工業科學家提供先進的成像和分析能力，允許高度準確和全面的樣本分析。憑借其分辨率、速度和高吞吐量功能,該工具為一系列應用程序提供了高效且用戶友好的平臺。