二手 ZEISS EM 109 #293610285 待售

ZEISS EM 109掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能分析儀器，能夠對各種材料的表面形態和納米結構進行高分辨率、三維成像。它有一個大的腔室，最多可以容納一個直徑25毫米的樣品，並且能夠放大一個樣品，其大小是原來的40萬倍。SEM具有二次和反向散射電子檢測器檢測樣品的各種特征，也有能量色散光譜（EDS）檢測器檢測樣品在周圍體積中的元素組成。EM 109 SEM配備了高真空系統，使樣品與環境的相互作用最小化，從而實現了準確的圖像采集。其高分辨率成像和檢測結構和元素組成的能力使其成為分析微觀表面特征和納米結構的理想工具。SEM能夠達到1納米以下的分辨率，能夠分辨出表面及其相關納米結構的精細細節。ZEISS EM 109 SEM的成像能力因其自動化級而進一步增強，允許以納米分辨率行駛多達55毫米。自動圖像縫合和自動曝光可提供準確、可重現的圖像,並顯著減少獲取圖像數據所需的時間。這允許用戶快速獲取大面積樣本的高分辨率圖像。EM 109 SEM還包含用於數據采集和分析的綜合軟件套件。這允許自動成像和分析以及後處理分析,以創建3 D重建和體積圖像,從而更深入地了解樣品的微觀結構。除了成像能力外，蔡司EM 109 SEM是材料表征的絕佳平臺，為用戶提供一系列的數字化和測量分析工具。SEM結合了先進的硬件和軟件系統,使用戶能夠精確測量樣品尺寸,精度降至納米級。它還具有檢測原子柱錯位、晶界和平面缺陷、量化晶粒尺寸和方向以及表征表面粗糙度的能力。總體而言，EM 109 SEM是一種寶貴和通用的工具，使科學家能夠對各種材料進行深入分析和定性。憑借其高分辨率的成像功能和強大的數據分析工具,它可以為用戶提供對樣品的微觀結構和原子特征的寶貴洞察力。