二手 ZEISS EVO 40 #293592536 待售

ZEISS EVO 40掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率成像工具，用於檢查納米級標本。EVO 40最大工作距離為1毫米，小點視場（FOV）為5nm，分辨率高達5µm，是極精確成像和分析的絕佳選擇。蔡司EVO 40是一款具有冷場發射槍（FEG）和薄膜塗層能力的像差校正SEM。FEG創建了一個高度聚焦的電子束，可以產生非常平滑的表面圖像，低噪聲和非常好的邊緣清晰度。薄膜塗層工藝為試樣表面提供了一層薄薄的保護，同時允許電子束的高可檢測性和對比度。EVO 40還包括一個反向散射檢測器和二次電子檢測器，允許高度詳細的各種特性的圖像，包括表面組成、晶粒大小和表面的其他特性。蔡司EVO 40還包括高級軟件，提供增強的圖像分析。還提供了3D重建、線路掃描和高級對比方法等高級測量和成像工具。這些工具使用戶能夠執行各種測量,包括形態、面積和尺寸測量、表面粗糙度和結晶度以及復雜的設備結構。此外,EVO 40還提供各種樣品支架,以確保兼容性和安全性。蔡司EVO 40采用高性能光學掃描電子顯微鏡主單元構造。該儀器設計用於安全操作和維護，提供內置安全系統、溫度監測和預警系統以及用於鎖定顯微鏡的獨立鑰匙等功能，以確保安全使用。用戶界面直觀,提供簡單的圖形用戶界面以及高級測量和成像工具。EVO 40以經濟實惠的價格提供獨特的高精度成像功能,使其成為各種應用程序的理想SEM。蔡司EVO 40擁有個人界面、精確的成像、可靠的塗層和探測器，是顯微鏡研究和分析的完美工具。