二手 ZEISS Ultra 55 #293687399 待售

製造商
ZEISS
模型
Ultra 55
ID: 293687399
優質的: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Non-functional Detectors: (2) In‐Lens Secondary Electrons (SE) Backscatter electron Everhart‐Thornley SE Angle Selective Backscatter (ASB) Energy Selective Backscatter (ESB) OXFORD INSTRUMENTS INCA 350 EDS OXFORD INSTRUMENTS EBSD Beam energy: 100 V to 8 kV GATAN MiniCL System IR Chamberscope 2009 vintage.
ZEISS Ultra 55是一種掃描電子顯微鏡(SEM),能夠在廣泛的樣品上產生高分辨率的圖像和極其精確的測量。它是一種有效的實驗室儀器,使用戶能夠以納米級的精度觀察、測量和分析材料。Ultra 55是一種數字成像和分析設備,結合了可變壓力和常規電子微粒復制模式。可用於在可變壓力模式下觀測大面積樣品,降低了表面充電效果。該儀器適用於成像工業和研究級半導體晶片等設備,如MEMS、生物傳感器和消費電子。加速電壓和工作距離的半導體模式和自動優化提供了高達0.7 nm的卓越圖像質量。該系統配備了世界知名的雙鏡頭技術,使用戶能夠全方位進行高分辨率成像。而且,五級能量濾波器將信噪比最大化,以準確識別和測量特征尺寸。ZEISS Ultra 55靈活的功能使其非常適合材料表征。高分辨率的成像和精確的測量,適用於調查組成,表面地形,缺陷計量,和其他特點的廣泛的材料。該儀器的納米級性能使其非常適合對材料的光刻性能進行基準測試。儀器直觀的用戶界面提供了預定義功能的快捷方式。此外,該單元能夠自動獲取圖像,允許使用單個命令拍攝成批圖像。Ultra 55的獨特設計將分析和成像功能結合到一個軟件包中,以便對材料進行高效、精確的表征。這臺機器適合研究和工業市場,可以很容易地與其他儀器結合起來,獲得更多的能力。
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