二手 ZEISS Ultra Plus #9028799 待售
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ID: 9028799
FE SEM
0.1 to 30 keV electron beam to image the surface of a sample in high vacuum
Edge resolutions down to 1 nanometer at 15 keV and 1.7 nm at 1 keV
Detectors available:
Inlens SE, Everhart-Thornley SE-BSE
EsB (inlens Energy selective Backscattered electron detector)
STEM (Scanning Transmission Electron detector)
80 mm airlock for sample exchange
Charge Compensation (CC) system:
Places a gas needle close to the sample for localized gas (N2) injection to reduce charging
CC system reduces the skirt effects observed in traditional variable pressure systems and the normal SE detectors (Inlens and Everhart-Thornley) can be used.
ZEISS Ultra Plus是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),可以用非常高的分辨率觀察材料的結構。這臺設備具有高性能的電子柱,可以成像到比5納米更好的分辨率。電子柱與ZEISS場發射槍耦合,可提供低電子發射和極好的穩定性。該系統還具有微點技術,非常適合對有機材料的結構進行成像,以及高分辨率的大面積反向散射電子探測器。Ultra Plus允許用戶快速準確地選擇最佳操作條件,並且非常適合納米結構應用。除了高分辨率成像功能外,ZEISS Ultra Plus還提供電子束光刻和原位加熱的可選模塊,可為用戶提供氫脆、腐蝕、氧化和其他材料特性研究的電、化學和熱控制。此外,該裝置還具有集成的光譜模塊,可用於能量色散X射線光譜和電子能量損失光譜。這種光譜模塊對於研究材料的組成特別有用。最後,Ultra Plus具有強大的硬件和軟件平臺,其中包括自動對齊、漂移校正和高級圖像處理技術,以幫助優化工作流程以實現最高效率。此外,可以遠程操作設備,允許遠程協作或遠程訪問數據。ZEISS Ultra Plus還包括樣品裝載單元、鏡頭內檢測器機和亞微米縫合能力。這些功能使用戶能夠使用各種成像技術輕松準備和觀察材料。總之,Ultra Plus是一款先進的掃描電子顯微鏡,提供高分辨率成像、原位加熱和光刻、光譜、自動化和獨特的硬件設置,是納米結構成像和分析的理想選擇。ZEISS Ultra Plus是尋找強大的SEM工具的研究人員和工程師的絕佳選擇。
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