二手 BRUKER-AXS S4 Explorer #9050537 待售

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製造商
BRUKER-AXS
模型
S4 Explorer
ID: 9050537
優質的: 2004
Wavelength dispersive XRF System Includes: (20) Sample cups X-Ray replaced Rh tube 60-Position sample changer Set up discs Semi-quantitative / full quantitative analysis Solid or liquid samples Computer and installed Bruker software Original software disks and manuals Process: Chemical analysis Detection limit: % to ppm (dependent on sample) Range: F-U 1 kW 2003 vintage.
BRUKER S4 Explorer是一種用於提供不同材料定性和定量分析的光譜儀。它結合了交替梯度場磁鐵技術、反射和透射光學,以及先進的應用特定軟件,快速準確地測量了一系列廣泛的材料參數。該光譜儀有一個4特斯拉磁體,它提供了一個均勻的頻場環境。此環境可確保所需測量的盡可能高的精度和精確度。其磁鐵也被冷卻至低溫,以幫助防止溫度波動。這也使磁鐵產生極均勻的頻率場,有助於提高測量精度。S4 Explorer配備了優化的BRUKER反射和透射光學器件。該光學封裝提供高分辨率、寬帶光譜成像,以及先進的傳輸光學系統。該系統采用多種提高分辨率的技術相結合,旨在提高靈敏度和準確性。光譜儀可以從微小的樣品中進行測量,並且可以處理各種各樣的材料類型,例如金屬、聚合物和復合材料。此外,該系統還可以測量濕度、薄膜厚度、薄膜結構和薄膜厚度。這使得光譜儀可以用於工業和科學領域的各種應用。BRUKER S4 Explorer軟件采用用戶友好的圖形界面設計,可方便地從用戶的工作站操作和控制光譜儀。此界面允許用戶輕松設置測試所需的參數,如樣本靈敏度、測量範圍和數據采集參數。該軟件還提供了多種分析和繪圖工具,便於解釋結果。S4 Explorer是一種通用的光譜儀,能夠在各種工業和科學應用中提供對不同材料參數的高度精確的測量。它的磁鐵技術、軟件和光學都有助於提高其精度和準確性,使其成為對各種材料進行多種不同類型測量的可靠工具。
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