二手 BRUKER-AXS Vertex 70 #293649663 待售

製造商
BRUKER-AXS
模型
Vertex 70
ID: 293649663
FTIR Spectrometer HYPERION 1000 and HYPERION 2000 IR microscope HYPERION 3000 Imaging microscope IMAC (imaging chamber) HTS- XT module (High Throughput Screening Extension) Microbiological module FT Raman module (RAM II) FIR bolometer.
BRUKER-AXS Vertex 70是為了研究X射線衍射(XRD)而設計的光譜儀。頂點70是一種高性能儀器,能夠提供關於各種樣品的結構、性質和動力學的詳細信息。BRUKER-AXS Vertex 70配備了高分辨率單色Cu X射線源、高精度采樣級、檢測器組件以及數據采集和分析系統。X射線源的波長為0.15418 nm,能夠檢測樣品參數的細微變化。樣品級可以在三維空間中移動,並精確定位相對於X射線束的樣品。結合這一點,Vertex 70具有1°的角度範圍,可以解析低至0.0004°的特征。探測器組件有一對閃爍探測器,對X射線衍射峰敏感,可提高采集效率。BRUKER-AXS Vertex 70還有一個集成數據采集系統,帶有用於數據收集、分析和顯示的高級軟件。該軟件允許用戶自定義特定任務的設置和功能。它還包括自動數據收集功能和預定義實驗庫。Vertex 70還有一個用戶友好的圖形用戶界面,有一系列不同的圖形工具,用於可視化數據。BRUKER-AXS Vertex 70可用於分析多種材料和參數,包括礦物、聚合物、晶體、藥物和納米材料。該光譜儀不僅可用於分析樣品,還可用於研究材料的結構及其表面粗糙度、溫度、應變和結晶度等性質。也用於催化、腐蝕、薄膜制備等研究領域。總體而言,Vertex 70是專門為詳細研究X射線衍射而設計的高性能光譜儀。它具有高分辨率的X射線源和高度精確的采樣階段以及集成的數據采集和分析系統。此外,光譜儀能夠以極高的精度分析各種材料和參數。
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