二手 CAMECA EX300 #9205994 待售

製造商
CAMECA
模型
EX300
ID: 9205994
Shallow probe metrology system.
CAMECA EX300是一種高性能二次離子質譜儀(SIMS),設計用於分析小顆粒的化學成分和分子結構。該儀器能夠產生可靠和詳細的樣品二次離子圖像,從而能夠識別元素組成和濃度。EX300是一種高保真系統,用於研究從金屬到聚合物材料的各種材料。它配備了能夠選擇多種能量在400-3000 eV之間的離子的單離子槍。這種離子槍也可以配置為在最多五個角度的範圍內輸送單原子離子。CAMECA EX 300的離子源具有高達10 nA的可調電流範圍,允許對尺寸較小的粒子進行分析。光譜儀的離子光學器件設計確保所有離子垂直撞擊樣品表面,最大限度地減少橫向散射,最大限度地提高檢測效率。EX300使用三個主要分析成分:二次離子成像、質譜和X射線熒光光譜。這些組件用於獲取樣本屬性的更全面視圖。二次離子成像提供了樣品結構和組成的三維表示。本組件通過創建輔助離子圖像來詳細描述材料的表面,從而可以測量粒子形態和物理結構。質譜法用於獲取樣品化學成分的定性信息。這個組分利用質量的因子來充電,以便準確識別樣品中存在的原子類型。CAMECA EX300也可用於通過X射線熒光光譜(XRF)分析樣品。這一成分利用X射線的發射來獲取有關樣品元素組成的信息。綜上所述,EX300是一種強大可靠的二次離子質譜儀,可用於研究多種材料。它結合了二次離子成像、質譜和X射線熒光光譜,可以對樣品性質和組成進行綜合分析。
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