二手 CAMECA IMS 4F #293587143 待售
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ID: 293587143
優質的: 1996
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS), parts machine
Port missing
1996 vintage.
CAMECA TOF-SIMS IV是一種先進的光譜儀，旨在讓研究人員測量樣品原子和電子之間的相互作用，為各種分析任務提供有用的信息。顧名思義，它采用飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）技術進行操作，使得能夠以離子形式測量樣品表面存在的瞬態和微量元素。該儀器結合了高能密度分析源的選擇，其靜態高能離子聲學透鏡系統。這使得TOF探測器能夠快速準確地校準，以適應每個實驗的分析需求。這種設置提供了離子計數和質量精度的最佳組合，使研究人員能夠在各種時間範圍內獲取具有廣泛動態範圍的質譜。這是通過儀器的三陽極設計實現的，該設計公正地選擇樣品離子並將其發送到安裝在樣品區域上方的飛行時間探測器。TOF-SIMS IV還設計用於通過其熱封和真空密封的樣品隔間減少環境汙染,包括儀器固有的汙染和來自環境環境的汙染。這使得樣品不會與空氣均勻，也不會與環境中的元素相互作用。該儀器還可以配備一個用於成像和樣品制圖的表面探針，以便於收集有關樣品組成和形態的信息。CAMECA TOF-SIMS IV能夠映射到1微米的分辨率，為用戶提供準確、詳細的樣品物理特性觀察。該儀器模塊化程度高，易於適應實驗要求，使用戶能夠完全控制TOF-SIMS IV，與儀器相關聯的軟件界面提供了一個方便易用的界面，用於控制質譜儀以及查看和分析獲得的光譜。這有助於研究人員快速識別材料的同位素和元素成分，並檢測雜質或化學成分的變化。CAMECA TOF-SIMS IV由於其魯棒性和提供準確結果的能力而成為研究人員的首選工具。廣泛應用於表面工程、材料科學、生命科學、微電子學和半導體工業、催化等領域，僅舉幾例。所有這些優點使TOF-SIMS IV成為一種精確快速地分析和收集復雜曲面信息的特殊方法。
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