二手 CAMECA IMS 4F #293769036 待售

CAMECA IMS 4F是一種強健通用的二次離子質譜儀（SIMS），設計用於高分辨率深度剖析和廣泛的元素同位素分析。它由高功率離子源、樣品濺射/蝕刻室、質量分析儀和探測器組成。CAMECA IMS4F具有兩種不同的標準離子源，高強度Cs+源和Ga+或Au+次級離子源。根據應用情況，可以選擇合適的源來提供所需的離子產率、質量分辨率和濺射速率。樣品濺射/蝕刻室裝有金剛石或SiC濺射探針和陽極支架。旋轉樣品濺射裝置允許可變樣品旋轉，以便有效濺射。該腔室包含一個低能量的植入源，能夠以非常高的精度對樣品進行深度剖析。IMS-4F質量分析儀是一種提供高動態範圍和分辨率的雙聚焦反射飛行時間儀器。質量分辨率敏感度產品（MRS）是一種質量分辨率的度量,可設置到2000年。CAMECA IMS-4 F的探測器是法拉第杯或多通道板（MCP）探測器。法拉第杯是檢測中等質量離子的理想選擇，而MCP檢測器更適合檢測低質量離子。MCP還通過消除檢測鏈中的任何背景離子來提高動態範圍和質量分辨率。CAMECA IMS-4F由高性能軟件提供支持,該軟件控制所有組件以實現最佳數據采集和分析。這很容易實現高速分析、現場掃描、成像和多深度分析。綜上所述，IMS 4F是一種具有很強的魯棒性和多用途的二次離子質譜儀，為表面樣品和體積樣品提供高分辨率和廣泛的元素同位素分析。它的靈活性，加上用戶友好的特點，使得這種儀器成為各種應用的理想選擇。