二手 CAMECA IMS 4F #9250201 待售

CAMECA IMS 4F光譜儀是一種多收集器質譜儀，設計用於薄膜材料的高空間分辨率成像和深度剖析。它允許對材料進行精確的同位素表征，並可用於構建高分辨率的沈積物3Dmaps和樣品表面和地下的粒子分布。CAMECA IMS4F設備是一種四元收集器質譜儀。每個收集器包含四根細絲，允許對樣品進行完整的同位素表征。每個集電極的陽極呈彎曲狹縫的形式，與雙差分控制器相連，允許對離子束進行時空控制。收集器正交定位,並且可以相對於樣品曲面移動到不同的位置。IMS-4F系統能夠進行外部和內部離子成像。外部離子成像（EII）是用來成像樣品表面，允許同位素映射沈積物如雜質或汙染物。內部離子成像（III）用於成像樣品的地下，允許高分辨率深度剖析沈積或離子植入。CAMECA IMS-4 F單元配備了多種有助於確保準確數據收集的功能。其中包括允許高離子電流密度的Bruker ICA光學器件，高信噪比的Merlin預放大器，以及允許廣泛濾波和聚焦選項的半智能電子機器。IMS4F工具具有超高精度的空間分辨率。它能夠成像尺寸小至0.3納米的粒子。這種能力使得IMS 4F資產非常適合在薄膜材料中成像納米級結構。綜上所述，CAMECA IMS-4F光譜儀是薄膜材料高空間分辨率成像和深度剖析的有力工具。它的四元素收集器和先進的光學器件能夠對樣品進行精確的同位素表征，用於各種應用。它具有小至0.3納米的粒子成像能力，是一種高度通用、精確的質譜儀。