二手 CAMECA IMS 5F #293652624 待售

CAMECA IMS 5F（離子微探針二次離子質譜儀）是一種基於二次離子質譜（SIMS）技術的獨特而強大的分析工具，能夠研究具有高度尺寸和化學分辨率的表面、界面和薄膜。IMS 5F允許進行表面元素組成分析、地形表面特征的定量3D成像,以及具有一系列同位素比和檢測極限的元素和同位素成像。該儀器的性能因其獲得專利的Cs$^+$主要離子源而得到進一步提高,其組合使得CAMECA IMS 5F理想的材料分析應用,如材料的微量元素分析、地形和深度剖析特征。利用專門設計的數據采集和分析軟件，IMS 5F可以在一系列組成尺度中識別和量化有機和無機樣品的元素和同位素組成。由於其高質量分辨率和檢測極限，CAMECA IMS 5F能夠提供定性和定量的元素和同位素分析到亞原子水平。IMS 5F使用Primary Cs$^+$的離子束,能夠對厚度高達150 nm的樣品進行深度剖析,覆蓋範圍高達1.7億Å$^2$。CAMECA IMS 5F具有在可變主光束電流下運行的附加優勢，使用戶能夠從0.05 pA至3500 pA的離子束電流選擇中進行選擇。此功能使用戶能夠使用一系列動態深度和橫向分辨率進行采樣。IMS 5F還提供高靈敏度圖像映射,橫向分辨率低至1nm,面積可達4.8 mm$^2$。CAMECA IMS 5F成像的動態範圍從低ppm水平到報告元素的幾個權重百分比。其元素和同位素分析能力與高分辨率成像和深度剖析相結合，意味著IMS 5F非常適合各種重要應用，包括但不限於： 表面和特征的3D成像、材料分析、納米級分析、電子摻雜分析、深度分析和汙染研究、半導體和陶瓷分析、成分分析和材料驗證。