二手 CAMECA IMS 6F #293622187 待售

製造商
CAMECA
模型
IMS 6F
ID: 293622187
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS).
CAMECA IMS 6F是一種高性能、重型離子微探針光譜儀,設計用於深度分辨成像和元素分析。它具有6極離子光學設計,提供了最高分辨率的離子成像,但實現了任何這類儀器。6 f是一個通用系統,旨在解決廣泛科學領域的廣泛問題。CAMECA IMS-6F配備了兩個主要部件--一個用於收集帶電粒子的法拉第杯,以及一個用於在探測器上成像離子的靜電聚焦透鏡。法拉第杯用於檢測和測量入射離子束的動能,而靜電聚焦透鏡則用於將每個離子定位在聚焦系統焦深處的探測器表面上。IMS 6 F的「6極」設計是允許獲取離子束路徑深度解析圖像的重要特征。這是通過使用四極電場和四極電容器陣列來完成的,這兩者共同有助於將離子聚焦到一個狹窄的光束中。它還允許以各種構型生成各種離子,以及管理幾種來源物種。IMS 6F具有獲取超高分辨率圖像的能力,這種能力是通過區域聚焦選項實現的,該選項使得能夠獲取在其探測器上具有特殊分辨率的圖像。這一特性適用於許多應用,如高能離子成像,以及在液體或氣態介質中監測緩慢移動的物種。該裝置也是高度敏感的,有能力在非常低的能量閾值下檢測少量的離子。IMS-6F提供了一個完整的、用戶友好的軟件包,可確保使用標準和高級功能輕松操作。它既可以使用個人計算機以獨立模式運行,也可以使用遠程儀器和共享數據庫等設施在網絡配置中運行。此功能為研究人員提供了巨大的優勢,因為他們可以同時與多個設備協作。總體而言,CAMEC CAMECA IMS 6F提供了獨特的功能組合,這使其成為廣泛用戶的理想選擇,從那些尋求精密深度解析成像的用戶到那些只想測量元素濃度的用戶。CAMECA IMS 6F憑借其先進的功能和用戶友好的功能,為元素分析提供了無與倫比的平臺。
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