二手 CAMECA SX-100 #293662816 待售

CAMECA SX-100是一種研究級原子探針斷層成像（APT）光譜儀,用於納米級化學分析.它能夠提供極精確的亞納米精度和卓越的成像能力。CAMECA SX 100利用激光技術蒸發和電離樣品尖端。然後從樣品中提取離子化物質，並使用飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）或精確區域束質譜（AABMS）進行分析。SX-100還能夠提供關於樣品的三維圖像重建和化學信息。SX 100設計用於廣泛的應用,包括材料表征、摩擦學、納米材料的結構表征和生物材料分析。它提供三維重建的能力，加上其高分辨率的性能，使研究人員能夠以令人難以置信的細節來表征和識別納米級的材料。CAMECA SX-100還配備了自動化數據采集、分析和可視化的高級軟件。CAMECA SX 100具有專有的設計和先進的光學性能,可提供卓越的性能。其空間分辨率通常在水平0.5到1 nm之間，垂直約4.5 nm。其質量分辨率一般優於0.1 pm/eV，視野在300 nm左右，空間覆蓋率高達400個凹坑。其靈敏度使得它可以分析檢測極限為100 ppb的元素。SX-100具有多種自動化功能以及一個大型樣本庫,使其適用於各種納米級表征任務。它還具有數據叠加功能,以便於比較獲取的數據集。SX 100由高級PC控件提供支持,可以獨立配置操作,也可以集成到用戶的現有設施中以直接傳輸數據。總體而言，CAMECA SX-100是一種先進的研究級原子探針斷層成像光譜儀，專門為詳細的納米級化學分析而設計。其高精度，加上先進的自動化功能和數據可視化能力，使其成為尋求精確表征和識別納米級材料的研究人員的理想選擇。