二手 GENESIS MegaSIMS #293669186 待售

GENESIS MegaSIMS是一種利用二次離子質譜（SIMS）測量樣品表面元素組成的表面分析儀器。MegaSIMS具有高靈敏度和高速度,能夠識別存在於低至百萬分之一級的元素。它具有一種新型的LASSEN離子光學器件，能夠提高分辨率和更高程度的表面元素組成分析。LASSEN離子光學器件有幾個有用的屬性。它允許使用非常低的二次離子能量，這是SIMS分析生物相關分子的理想選擇。這意味著可以用較少的化學偏差對表面結合分子的原子進行質量分析，從而更清楚地了解樣品的化學和組成。另外，利用具有低能量二次離子的GENESIS MegaSIMS，離子中間能降低，從而降低樣品充電。這反過來減少了在進行分析之前需要專門的樣品準備工作。MegaSIMS配備了幾臺質譜儀，以優化分析。使用的主檢測器是用於檢測傳入次級離子的次級電子檢測器。然後用基質輔助激光解吸（MALDI）系統分析二次離子，以識別表面的元素組成。這包括確定元素的可能位置。MALDI系統也可用於測量同位素比，以進一步分析樣品。MALDI分析完成後，進行二次離子質量分析，測量樣品中元素的相對豐度。這是一個有用的豐度映射工具，可以檢測濃度範圍廣泛的元素。GENESIS MegaSIMS也可用於同位素分析。這類分析常用於輻射測年，或理解樣本的起源。對於同位素分析，也有稀有氣體質譜儀。這是用來識別特定元素的不同同位素，因為這些同位素的不同質量可以用來識別樣品的不同財富。總體而言,MegaSIMS是一種功能強大、可靠且用途廣泛的工具,可用於對樣品曲面進行全面分析。有效利用其LASSEN離子光學器件以及其他質譜儀，可以全面分析樣品的元素組成，以及同位素比和相對豐度映射。這使得它成為任何希望分析固體或液體樣品的實驗室的有用工具。