二手 ION TOF TOF SIMS IV #9243595 待售

ION TOF TOF SIMS IV（Secondary Ion Mass Spectrometer）是一種先進的質譜學形式，結合了幾種不同的技術以進行極精確和精確的分子表征。該儀器能夠對離子的質量-電荷（m/z）值及其同位素組成進行高度精確和敏感的測量。TOF離子TOF TOF-SIMS IV利用離子源使樣品電離，或者用電子、激光或氣相化學反應轟擊樣品。這些離子穿過電場，然後加速進入飛行時間（TOF）室。然後根據離子的質量將其分離並指向探測器。TOF TOF SIMS IV光譜儀配備了一個飛行時間（TOF）分析儀，用於測量每個離子的飛行時間，從而允許用戶確定離子的質荷比。該分析儀還能夠測定樣品的同位素組成和元素組成。另外，儀器配有離子檢測器，提供樣品中離子數量的信息。TOF-SIMS IV是一種先進的表面分析工具，能夠以高分辨率測量表面的離子成分。它可以探測和分析非常小的物質粒子，甚至到原子水平。除表面分析能力外，還用於無機和有機分析，以及在藥物發現和醫學診斷中的應用。ION TOF TOF SIMS IV可以分析各種不同樣本大小的粒子，包括從納克到毫克。它還能夠以高達10個小數點的精度測量同位素比，使其成為研究同位素地球化學的研究人員的寶貴工具。總體而言，ION TOF TOF-SIMS IV是一種用途廣泛、魯棒的質譜儀，在許多不同領域都有廣泛的應用。它進行精確精確測量的能力對於研究各種材料的科學家來說是無價的，從納米級的粒子到宏觀級的酸和固體。它還為研究人員在藥物發現和醫學診斷方面提供了強大的工具，使他們能夠更好地了解各種化合物的組成。