二手 OXFORD X-Max #9375044 待售

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製造商
OXFORD
模型
X-Max
ID: 9375044
Energy Dispersive Spectrometer (EDS) 51-XMX0020 Detector HITACHI SU-3500 Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 7 Pro Calibration performance: Discriminator calibration (FxMxS): 56x36x61 Peak position calibration: 1851 Quant optimization: Cu Specified resolution: 127 eV Extrapolated system resolution: 124 eV (Triggered noise strobe) Measured detector resolution at Mn K Alpha: ≤127 eV Nickel L-K: >0.85 at 35° TOA and 20 kV Measured detector resolution at C K Alpha: ≤56 eV Measured detector resolution at F K Alpha: ≤64 eV Detector temperature: -60°C Peltier power: 5.387 W.
OXD X-Max光譜儀是一種高級光譜儀,設計用於高分辨率波長色散X射線熒光(XRF)應用。它具有新開發的探測器陣列,可提高分辨率、效率和靈活性。它使用最多四個X射線激發源,這些激發源可以單獨選擇用於優化元件檢測。探測器陣列最多由六個元素組成,每個元素都以不同的入射角和角度排列。這種安排允許同時捕獲範圍廣泛的X射線波長,從而以最高效率獲得高分辨率信息。該陣列由堆疊的填充氙氣的檢測器單元構成,旨在最大限度地提高X射線檢測效率,最大限度地減少計數波動。X-Max還配備了新的Si (Li)探測器,為輕型元件提供高檢測效率。OXFORD X-Max的動態範圍增加,範圍可達一萬個計數,從而實現高采樣吞吐量和改進信噪比。該光譜儀還采用了廣泛的幹擾抑制技術設計,包括光束成形、單色儀減法以及用於噪聲抑制和最優分辨率的脈沖操作。X-Max采用獨特的真空室和定制冷卻技術,以確保長期的可靠性和性能。其定制設計的折射光學器件提供了改進的熱環境和最小化的漂移,以確保準確的讀數。OXD X-Max還具有內置的自動曝光控制功能,允許用戶優化樣品條件,以最大限度地提高分辨率,最大限度地降低過度曝光的風險。X-Max具有高級軟件,旨在簡化數據集成和分析。其直觀的圖形用戶界面(GUI)允許用戶即時監控其測量、查看原始數據和訪問結果。該軟件還具有集成搜索引擎和可定制的排序選項,使用戶能夠快速查找所需的元素。總體而言,OXD X-Max提供了一種功能強大的獨立光譜儀,它結合了令人印象深刻的用戶友好軟件和強大的探測器陣列,可提高分辨率和效率。其用戶友好的設計、高分辨率的功能和先進的軟件使X-Max成為XRF光譜的理想選擇。
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