二手 PERKIN ELMER 5100P XPS #9258874 待售
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ID: 9258874
X-Ray photo electron spectrometer
Semiconductor/ Microelectronics:
Microcircuits
Ultra-thin films
Soldering
Cleaning
Thin-film stability
Barrier layers
Lubrication
Plastics / Coatings
Catalysis
Fibers
Metal / Steel industry
Nitridin /Carburizing
Corrosion
Welding
Fatigue
Grain boundary segregation
Glass
Coating
Motor / Avionics
Lubrication
Corrosion
Oxidation
Fatigue / Failure
Fiber composites
Adhesives
Hemispherical Analyzer with Single Channel Detector (SCD): 10-360
Pump ion source
With control argon bottle and leak valve: 04-300, 5 kV
Dual anode X-ray source and controls: 15 kV
X-ray Source Water Chiller
Specimen stage: X, Y, Z
Interface and cables: RBD 147 PC
Operating system: Windows XP
Sample load lock
Pumping stations:
Turbo pump
Control pump
Roughing pump.
PERKIN ELMER 5100P XPS是一種超高分辨率、高性能的X射線光電子光譜（XPS）設備，旨在快速準確地表征材料的化學性質。該5100P采用最先進的高分辨率反射電子光譜儀和高靈敏度探測器。這種特性的組合確保即使是最具挑戰性的實驗也能可靠地和重現地進行。該系統還包括計算機控制，以自動化數據收集和分析。5100P的主要功能是揭示樣品表面化學構成中存在的元素和氧化態。產品線配有高分辨率的熱電子場發射槍（Field Emission Gun，FEG），快速加熱樣品，產生高品質、電荷中性的電子流撞擊樣品表面。然後檢測和分析這種入射能量，以便確定原子種類及其相關的氧化態。該單元還包括一個廣角電子分析儀，能夠收集高角度範圍的能量色散雙向光譜。這提供了有關原子級化學表面狀態的組件信息,以及分析曲面上的大量詳細信息。5100P的用戶可以受益於使XPS流程更輕松的多項高級功能。其中包括結合了最新的XPS數據擬合技術，該技術具有檢測峰值和精確隔離即使是最復雜的分析光譜的信號的能力。該機器還附帶了用於數據記錄和曲面分析的軟件。綜上所述，5100P XPS是一種超高分辨率光譜儀，能夠快速準確地表征一個表面的原子級特性，具有出色的軟件能力來加快這一過程。
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