二手 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 670 #9205333 待售

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670是一種高度精密的光譜儀,設計用於分析復雜的材料和表面。PHI 670提供一系列功能,可進行精確的數據收集和分析。該儀器采用激光光譜儀進行高級測量，包括角度分辨光發射光譜（ARPES）、紫外線光發射光譜（UPS）和X射線光電子光譜（XPS）。光譜儀還提供了集成分析儀，它提供了關於樣品的廣泛信息，包括結合能和光譜分辨率。PHYSICAL ELECTRONICS 670包含一個光學表，靈活的樣品架和高度靈敏的探測器，允許精確準確的數據收集。該表配置有一個滑動反射單色儀和一個速度選擇孔徑，接受從紫外線到X射線頻率的不同激光能量輸入。柔性樣品支架允許優化表面詢問和角度分辨率測量,且樣品定位或旋轉誤差最小。同時，可以調整樣品支架中的平衡基板溫度，使其與激光能量源相匹配。光譜儀提供兩種不同的數據收集模式。單發數據收集的特點是快速的數據采集和最小的設置,而實時數據收集則允許對動態過程進行分析。另外，670具有多通道掃描能力，可以對地下層和薄膜的折射率進行深度剖析。這對於監測基板層的光學和幹涉特性非常有用。再者，PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670可以同時測量解吸、散射、化學反應和熱釋放等多個動能和熱過程。PHI 670旨在測量精確的數據,同時提供快速的數據收集和采集過程。它結合了多種功能,是PHI中的各種應用程序的絕佳選擇。除了測量復雜的過程外，它還能有效地表征材料、薄膜、基板以及用於表面科學和材料分析的傳感器。PHYSICAL ELECTRONICS 670非常適合需要先進光譜儀進行精確數據測量的工業和研究實驗室。