二手 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #293759112 待售

PHI PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III是一種三收集器、飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）。它是一種高度精密的分析儀器，使用串聯的TOF-SIMS根據離子的質荷比（m/z）來分離和表征離子。使用脈沖初級離子束，正負次級離子從樣品表面釋放出來，加速進入漂移室，在那裏被檢測到。當離子進入腔室時，它們被靜電柵格和一系列離子光學透鏡偏轉。離子束的分離由TOF-SIMS分析儀實現。PHI TRIFT III具有廣泛的應用範圍，從表面表征到有機和無機樣品的無損成像。對於表面的表征，它快速準確地決定了各種元件的組成和薄膜厚度。它還可以識別化學對比度區域並顯示詳細的2D元素分布圖以進行成像。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT III還具有許多獨特的高級功能。其中有它的矩陣輔助二次離子質譜（Matrix Assisted Secondary Ion Mass Spectrometry, MASIMS）技術，使得能夠辨認某些傳統SIMS難以分析的物種。它還有一個多圖像設施，用於對腐蝕或蝕刻等動態過程進行時間解析研究。總體而言,TRIFT III是一款功能強大且用途廣泛的分析儀,可實現廣泛的表面分析應用。它提供了卓越的性能和可靠性，使其成為研究人員和行業專業人士尋找快速準確特征樣本的首選工具。無論任務涉及查看靜態或動態過程（有機或無機）,還是簡單地評估曲面,PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III都取決於工作。