二手 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #9106480 待售

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III是為PHI （PE）測量應用而設計的多功能、功能強大的光譜儀。它有一個通用的六通道檢測設備，能夠測量和分析物理和電氣性能在納米，皮秒，和飛秒水平。PHI TRIFT III是PHYSICAL ELECTRONICS開發的一系列光譜儀儀器中的第三種。PHYSICIAL ELECTRONICS TRIFT III提供了廣泛的信息和分析工具,能夠全面測試和分析半導體材料和器件,包括電壓敏感電阻、光電器件、功率半導體器件和集成電路。PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT 3也非常適合探測各種領域,包括電氣、光學和熱特性。PHI TRIFT 3配備了高分辨率法拉第效應檢測系統，提供超快、皮秒級、無散粒噪聲的測量。它還配備了用於測量結電容、擴散電容以及相關特性的寬帶脈沖激光器。激光具有二極管、閃光燈和光電二極管,用於光學探測任何正在測試的設備。PHYSICIAL ELECTRONICS TRIFT 3還配備了微波頻率噪聲測試單元，提供快速準確的噪聲測量。該機器提供了研究工具聲學、環境噪聲源和熱噪聲的能力。另外，物理電子/PHI TRIFT3能夠測量納米級器件的千兆赫噪聲。PHI TRIFT 3有一個集成的E-field-sensor單元，能夠進行皮秒級的電氣測量，包括電場、感應元件、電容元件等特性。該資產可以測量晶體管、雙極結晶體管和場效應晶體管的物理性質。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT 3還配備了先進的場發射場測量系統，用於研究納米級電生理反應。該模型可以測量介電響應、電子場響應及其相互作用。其掃描電子顯微鏡允許以納米尺度分辨率研究納米設備的微觀特征。總之，PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT3光譜儀是物理、電氣和光學測試應用的理想儀器。它包含了一套全面的測量和分析工具，用於調查半導體器件在皮秒和飛秒水平。其高效的電子場傳感器和先進的場發射場測量系統使其成為納米級器件表征的寶貴工具。