二手 PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 #293759391 待售
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ID: 293759391
Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS)
Ion sources: Ga+, Cs+, O2+
Detection limit: ppm-ppb
Spatial resolution at imaging: >100 nm
Probing depth: 1-3 monolayers in static mode
Depth resolution: 0.5 nm with 500eV sputter gun
Mass range: 0-10.000 amu
Detectable elements: H-U.
PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97是一種最先進的光譜儀，設計用於利用俄歇電子光譜（AES）和X射線光電子光譜（XPS）技術進行表面分析。這種高性能儀器使研究人員和科學家有能力研究具有特殊靈敏度和深度剖析能力的材料的表面化學、組成和結構。TRIFT97光譜儀配備了半球形電子能量分析儀，可以精確測量發射電子的能量，從而能夠準確測定樣品表面的元素組成和化學鍵合態。該系統設計用於在超高真空條件下運行，以最大程度地減少表面汙染，並在分析過程中保持較高的信噪比。該儀器采用精密電子槍組件，將聚焦電子束發射到樣品表面，誘導俄歇和光電子發射。這些發射的電子隨後被電子能量分析儀收集，並經過處理生成高分辨率光譜，揭示有關樣品元素組成和化學環境的詳細信息。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97光譜儀配備了多個檢測通道，可同時獲取螺旋光譜和XPS光譜，從而對復雜表面進行高效而全面的分析。該系統允許用戶通過用離子束濺射樣品，同時持續監測表面成分和化學狀態的變化來進行深度剖析實驗。TRIFT97光譜儀的一個關鍵特點是其先進的數據采集和處理軟件，它為儀器控制、數據采集和分析提供了一個用戶友好的界面。該軟件允許實時可視化獲得的光譜，峰值識別，元素濃度的量化，以及基於結合能的化學態解釋。該儀器還包括一系列可選的附件和升級，以增強其分析能力，例如增強XPS分辨率的單色X射線源、順序濺射和分析的深度剖析模式，以及在受控溫度下進行現場實驗的樣品加熱和冷卻階段。總而言之,PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97是一種用途廣泛且功能強大的光譜儀,它為表面分析應用程序提供了最先進的功能。該儀器具有較高的靈敏度、分辨率和深度剖析能力，非常適合探索材料科學、納米技術、催化、半導體研究等領域廣泛材料的表面特性。它直觀的軟件界面和可選的附件使它成為研究人員和科學家尋求深入了解原子層面表面的化學和結構的寶貴工具。
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