二手 ULVAC / PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT V Nano-TOF #293644316 待售

ID: 293644316
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS).
ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT V Nano-TOF(飛行時間)光譜儀是一種電子儀器,設計用來測量在廣泛能量範圍內的粒子。這類光譜儀檢測離子、電子和其他帶電粒子的飛行時間,使其具有測量粒子速度、能量和強度的能力。PHI TRIFT V Nano-TOF利用飛行時間質譜(TOFMS)來高精度測量粒子。ULVAC TRIFT V Nano-TOF由幾個組件組成,包括離子源、TOF分析儀、探測器和分析系統。離子源將離子註入TOF分析儀,使粒子加速到所需速度。探測器然後測量飛行的離子時間、粒子速度、能量水平和粒子強度。分析系統利用高精度脈沖計數器來計算粒子的到達時間。物理電子TRIFT V納米TOF光譜儀提供高性能的粒子檢測。它的超寬範圍能量檢測允許粒子在從低能電子到高能離子的廣泛能量範圍內被精確檢測。光譜儀也是高度敏感的,允許具有良好背景抑制的低級檢測。此外,TRIFTvNano-TOF速度快,用途廣泛,可以同時測量多種粒子類型。ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT V納米-TOF光譜儀是檢測粒子飛行時間、速度、能級和強度的有力工具。它的多功能設計、高靈敏度和超寬範圍的能量檢測功能使其成為許多研究應用的寶貴儀器。該儀器非常適合光致發光測量、表面科學、氣體分析和監測以及分子碎片化研究等應用。此外,這種光譜儀提供了市場上任何TOFMS系統可用的最精確的粒子能量和速度測量。
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