二手 ULVAC TOF-SIMS TFS-210 #9078417 待售

ULVAC TOF-SIMS TFS-210是為高級研發應用而設計的TriboField®二次離子質譜儀（SIMS）。本次飛行（TOF-SIMS）儀器分辨率高，質量精度高，是半導體和有機材料表面表征的理想選擇。TOF-SIMS TFS-210系統能夠分析從幾個amu到超過1500 amu的大質量範圍,在低質量範圍內的靈敏度高達大約50 amu。以其高精度的光學設計，提供優異的質量分辨率與同位素質量的同位素峰分離。ULVAC TOF-SIMS TFS-210具有tribofocused source,允許對甚至小分子離子進行有效的質譜分析。此外，系統還配備了電噴霧離子源，用於分析含有有機化合物的樣品，以及用於小分子的正電離。TOF-SIMS TFS-210還有一個用於選擇初級離子的兩步漂移管系統，以便能夠將感興趣的次級離子與不需要的離子分離。TOF-SIMS有五種不同的數據采集方法，使得它在應用中用途廣泛。這些程序包括傳輸方法、三步解吸方法、可變能量質量選擇方法、檢測痕量物種的反沖離子方法、以及可以進行離子成像和濺射深度剖析的侵蝕成像方法。ULVAC TOF-SIMS TFS-210還提供了幾種軟件選項,便於樣品準備和數據處理。為需要更深入地訪問數據和分析功能的人員提供了教程和培訓。總體而言，TOF-SIMS TFS-210是深度表面表征的理想工具，它結合了高分辨率和卓越的質量精度。ULVAC TOF-SIMS TFS-210在樣品制備技術和易於使用的軟件方面具有靈活性，非常適合各種領域的研究人員。