二手 BRUKER Senterra II #293820090 待售

ID: 293820090
Raman microscope Dual wavelength excitation: 785nm (100mW) Dual wavelength excitation: 532nm (25mW) Motorized stage: 50x75 Insert plate Microscope objective: 10x, NA=0.3 Working distance: 10mm Microscope objective: 50x, NA=0.50 Long working distance: 10.6mm PC 5 O/IR8+ 1 PC 0.00 0.00 3D+, Map+ Vid+ modules R-KIMW+ Libraries.
BRUKER Senterra II是一種尖端分光光度計,為廣泛行業的研究人員和科學家提供先進的分析能力。這款高性能儀器將創新技術與精密工程相結合,對各種材料進行準確可靠的光譜分析。Senterra II旨在滿足現代研究應用程序的需求,為用戶提供實現分析目標所需的靈活性和效率。BRUKER Senterra II的一個關鍵特征是其高光譜分辨率,這使得研究人員能夠獲得樣品化學成分的詳細信息。該儀器配備了高質量的光學系統和最先進的探測器,能夠以極高的清晰度和準確性捕獲和分析光譜數據。這使用戶能夠檢測樣本組成中的細微差異,並精確識別跟蹤組件。Senterra II提供了廣泛的光譜範圍,涵蓋了從紫外線到近紅外區域的波長。這一廣泛的範圍讓研究人員能夠分析各種各樣的樣品,包括有機和無機材料、液體、固體和氣體。該儀器可執行多種光譜技術,如吸收、反射、透射和熒光,為用戶提供不同類型樣品的通用分析能力。除了高光譜分辨率和寬光譜範圍外,BRUKER Senterra II還配備了改進數據采集和分析的高級軟件。該儀器具有用戶友好的軟件接口,使研究人員能夠輕松設置實驗,收集光譜數據,並進行數據處理和解釋。該軟件還包括用於數據校準、基線校正、峰值擬合和光譜反卷積的內置算法,便於對復雜樣本進行準確可靠的分析。Senterra II專為易於使用和可靠性而設計,具有堅固的結構和直觀的用戶界面,適合新手和經驗豐富的用戶。該儀器具有自動化的樣品處理能力,包括樣品定位和聚焦,這簡化了分析過程並確保了一致的結果。光譜儀還配備了一系列配件和選件,如可變孔徑、可互換光柵和溫度控制單元,以適應不同的實驗要求和樣品類型。BRUKER Senterra II是一款用途廣泛、功能強大的分光光度計,非常適合各種研究應用,包括材料科學、制藥、聚合物、環境分析和生命科學。無論您是進行例行的質量控制測量,還是探索新的研究領域,Senterra II都能提供滿足您的科學目標所需的分析性能和靈活性。BRUKER Senterra II具有高光譜分辨率、寬光譜範圍、先進軟件和用戶友好型設計,為現代光譜分析設定了標準,是推進科學知識和發現的寶貴工具。
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