二手 ADE 9300 #293804212 待售

ADE 9300
製造商
ADE
模型
9300
ID: 293804212
Wafer inspection system.
ADE 9300晶圓測試和計量設備是業界領先的平臺,用於測量制造環境中先進集成電路(ICs)的關鍵特性。該系統采用了一套可靠的電氣和光學計量工具,以比目前其他設備更高的精度和速度來測量集成電路的性能。電氣和光學能力的緊密集成使得9300單元成為現代半導體制造商的理想選擇。ADE 9300機器提供高通量和精確的電氣測試,包括對尺寸可達3mm的設備進行直流和混合模式測量。該工具將精密測量單位(PMU)與數字信號調節和高性能光學層測量相結合。此外,9300資產提供了在同一配置中測量多種設備類型的靈活性。ADE 9300使用激光幹涉測量來掃描晶圓表面,使模型能夠映射出設備的布局及其電氣特性。通過識別相關特征和電極,9300可以同時測量接觸電阻、片狀電阻、串擾等參數。ADE 9300采用高分辨率光學特征識別(OFREC)技術,能夠測量低至15nm的設備上的接觸/連接電阻,測量頻率高達80 MHz。此外,9300設備能夠以令人印象深刻的速度和精度進行測量。它的快速晶圓掃描和先進的測量算法減少了測試時間,同時仍然允許精確測量甚至最精細的參數。此外,ADE 9300還與其他設備集成,使系統能夠輕松監控和控制從晶圓拾取到分配的整個測試過程。9300為現代半導體制造商提供了全面、可擴展的解決方案。其全面的測試和計量功能使用戶能夠更好地控制過程,並使其成為高產生產的理想選擇。憑借強大的硬件和軟件,ADE 9300可以輕松快速地配置,以滿足每個客戶的特定測試和計量需求。
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