二手 ADE / KLA / TENCOR 7000 #163215 待售

ADE/KLA/TENCOR 7000是一種晶圓測試和計量設備，為半導體元件提供快速、準確、低缺陷密度的統計數據。該系統能夠檢查和測量晶片上每個模具的電氣、光學和機械性能。它不僅為常規用途（如短褲和開口）提供分析,而且還對特征輪廓進行3 D測量,包括Step height、Overlap、Roughness和Critical尺寸。它的可重復性和準確性對於過程控制和產量最大化至關重要。ADE 7000利用先進的光學計量工具提供各種產品格式的精確數據。該單元采用創新的雙軸先進光學計量工具，提供三維計量數據，結合晶圓的自動引導掃描。這允許快速測量晶片的各種特性，以及先進的異常檢測能力。該機器還具有多種生產級別的軟件和硬件選項。這包括基於Windows的軟件套件、開放體系結構、自動晶圓管理和晶圓缺陷分析以及集成的視覺、統計和分析工具。所有這些功能使用戶能夠快速識別和分析晶片上的標準和復雜缺陷,從而提供準確的測量數據和缺陷管理,而無需手動輸入。為確保準確性,KLA 7000具有自動半導體模具和模具對準功能,以及全球校準標準。這樣可以確保所有測量都是精確且可重復的,從而使用戶能夠制造出可靠的零件。此工具還具有用於拒絕或修復壞部件的內置警報資產,以及自動部件跟蹤。總體而言，7000是一個強大、精確、可靠的晶圓測試和計量模型。它可以快速準確地識別缺陷,並有助於確保零件的質量和可靠性,以及提高生產效率。憑借強大的軟件和硬件選項，它是生產級晶圓測試和計量的理想選擇。