二手 ADE / KLA / TENCOR 7000 #9088198 待售

ADE/KLA/TENCOR 7000是市場上最先進和創新的晶圓測試和計量系統之一。此設備用於一系列任務,包括生產測試、晶圓表征、缺陷檢測和最短時間內的故障分析。該系統允許晶片測試和計量過程在廣泛的晶片上進行，包括薄膜基板、平板顯示器、微電子等。ADE 7000可用於精確測量晶圓表面特性，如平面度、輪廓和厚度。其先進的晶圓探測裝置通過其精確的傳感器探測技術提供了更高的接受率和準確性。該機器能夠及時檢測缺陷,如螺距變化、顆粒汙染和表面粗糙度。此外,它還提供了全面的3D成像和組件分析以及出色的單圖像分析。該工具還提供了一系列計量優勢,包括改進的平面性、缺陷檢測、缺陷定位和吞吐量。這些特性有助於同時對晶片樣品進行一個或多個參數的高效分析。此外，資產還具有分析和測量粗糙度、電阻率和光散射的能力。此外，它還提供了三維表面成像和掃描平面度測量，以識別地形差異和缺陷熱點。在功耗方面,KLA 7000的設計要求低,性能比傳統的測試和計量系統快十倍。該型號還配備了直觀的圖形用戶界面，可方便導航和操作。這種用戶友好的工作流允許復雜晶圓處理操作的高效和可重復的性能。總體而言，TENCOR 7000的設計目的是以高效的方式提供精確可靠的晶圓測試和計量結果。其先進的特性和能力使其成為晶片制造商和質量保證專業人員的寶貴幫助。通過將高級分析功能與直觀的用戶界面和降低的功耗相結合，這款設備能夠提供市場上最準確可靠的晶圓測試和計量結果。