二手 ADE / KLA / TENCOR 7000 #9239664 待售

ADE/KLA/TENCOR 7000是由ADE Technologies開發的最先進的晶圓測試和計量設備。這個通用平臺設計用於測試、測量和檢查直徑不超過7英寸的晶片。適用於任何晶片類型，具有容納晶體和半導體材料、SOI、MEMS等微器件基板的能力。該系統基於獲得專利的模模對準技術，將全自動智能掃描階段與高分辨率光束成像相結合，提供精確的晶圓映射和缺陷監控。通用尺寸的晶圓處理單元支持多種晶圓類型，為可靠的測試和計量提供完整的晶圓覆蓋。憑借其全面的計量能力,它提供了對精細和宏特征的高度精確的測量。它的表面和非接觸技術能夠檢測高度拋光的表面上的小缺陷，特征測量值可降至納米範圍。其他特征包括圖樣識別和表面變化的3D形狀測量,以及徹底的汙染物測試。該機具備高速混合圖像處理能力，可直接訪問復雜的過程控制數據。內置計算模塊支持高級缺陷分析,包括大小、計數、位置和其他參數的分析。該軟件還允許將圖像、視頻、數據和報告快速、輕松地捕獲和分發到任何屏幕或監視器。對於過程集成,該工具采用高級自動化協議進行設計,以便與某些制造網絡輕松集成。其精密的軟件設備資產還有助於自動化設備參數測量、故障檢測和報告以及實時數據記錄。ADE 7000是一種可靠的晶圓測試和計量模型，為半導體、可靠性、計量等行業提供高效可靠的結果。它的全自動智能掃描階段和高精度光束成像,加上先進的計量功能,使其成為測試和測量直徑不超過7英寸的晶片的理想選擇。