二手 ADE / KLA / TENCOR 9520 UltraGage #9245050 待售
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單擊可縮放
ID: 9245050
Dimensional measurement system
ASC200 Controller included
Thickness: ± 1.00µ
Shape (Bow / Warp):
±( 3.00 + 5% of reading) µm
±( 4.00 + 5% of reading) µm
Global flatness: ± 0.50 µm
Integral wafer centering and pre-aligner
Backside contacting chuck
Vacuum chuck diameters:
Small (23.3 mm): 3", 100 mm -150 mm wafers
Large (33.4 mm): 125 mm- 200 mm wafers
Wafer contact materials:
Resting pads: Santoprene
Vacuum chuck: Polyurethane
Nominal wafer thickness range: 250 µm - 750 µm
Auto-loader:
Single / Dual cassette
Sorting: Slot-to-slot / Cassette-to-cassette
Backside contact, horizontal cassette orientation
Wafer contact material: Teflon
Nominal wafer thickness range: 250 µm - 750 µm
Conductivity type: P / N
Edge exclusion:
Thickness: 3 mm / 5 mm
Shape: 3 mm
Nominal wafer thickness: 250 µm - 750 µm
Resistivity: > 0.1-200 Ω cm
Edge gradient: 0.1 µm/mm
Power supply:
Temperature range: 12.7°- 29.4° C (55° - 85° F)
Relative humidity: 55 to 95% non-condensing
Vacuum: 0.6 SCFM, 635 mm (25") Hg ± 10%
Peak usage: 2.8 kVA
Voltage: 100/120/200/208/220/230/240 VAC ± 10%
50/60 Hz, Single phase.
ADE/KLA/TENCOR 9520 UltraGage是ADE設計制造的先進晶圓測試和計量設備。ADE 9520 UltraGage采用創新技術結合先進的硬件和軟件功能,提供最高水平的準確性、精確度和性能。該系統旨在幫助用戶測量半導體和微電子工業中使用的晶圓和基板的一系列關鍵特征和參數。KLA 9520 UltraGage基於具有頂級光學和圖像處理功能的高速光學計量平臺。這使用戶能夠以前所未有的分辨率和準確性來測量各種晶圓特性。該單元專為檢查直徑不超過12英寸的半導體基板而設計。它具有先進的XY級,可支持多達12英寸的晶圓,使其成為測量不同基板上微小特征的強大工具。機器配備了多種功能,使其能夠有效地進行關鍵參數的測量。這包括一個先進的晶圓映射工具,可以檢測樣品晶圓上的痕跡缺陷、缺陷和汙染。它還具有強大的算法,可以對測量值進行準確分析,並對各種底物之間的不均勻性進行統計檢測。此外,9520 UltraGage內置軟件,允許用戶自定義晶圓質量控制和計量應用的參數,使他們獲得更可靠的結果。該資產還配備了內置校準模型,以保證精確和可重復的測量,而強大的光學顯微鏡有助於快速識別任何表面缺陷。TENCOR 9520 UltraGage是晶圓加工過程中質量控制和表征的理想工具。由於其強大的特點,其卓越的精度和精確度,設備可以提供寶貴的洞察晶圓制造和檢查。通過提供更好的性能和可靠性,ADE/KLA/TENCOR 9520 UltraGage可幫助公司同時降低成本和確保質量。
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