二手 ADE / KLA / TENCOR 9600 #9234990 待售

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ADE / KLA / TENCOR 9600
已售出
ID: 9234990
Wafer inspection system.
ADE/KLA/TENCOR 9600是一種先進的晶圓測試和計量設備,設計用於半導體制造過程中的質量控制和工藝優化。它能夠快速、準確和精確地表征晶圓曲面和圖樣,使操作員能夠最大限度地減少昂貴的生產產量損失。該系統采用先進的非接觸式光學計量技術,包括多次成像、測量和圖像分析操作。它擁有集成的彩色CCD(電荷耦合器件)相機和激光衍射傳感器以及8英寸晶圓檢測範圍。它還包括一個自動聚焦單元和一個行業領先的算法,快速準確的自動模式識別。這臺計量機支持多種測量技術。它可以測量臨界尺寸,如線寬、線間距、線端點和線角,以及更復雜的參數,如總線輪廓。它還支持光譜橢圓偏振法來測量各種厚度和折射率來表征薄膜。ADE 9600與最新的統計過程控制(SPC)軟件集成在一起,能夠對大型生產批次進行評估和分析。該工具附帶各種專門的軟件工具,如邊緣檢測、灰度映射和臨界尺寸分析。這使操作員能夠快速處理來自許多晶圓的大量數據,並輕松識別不符合標準的單元。KLA 9600擁有全面的可編程應用程序構建環境,可用於創建自定義半導體測試解決方案。這包括功能強大的模式識別算法、現成的測量腳本庫以及對C、C++和Visual Basic等外部編程語言的完全支持。最後,該資產具有高分辨率5.7英寸觸摸屏顯示屏和高度直觀的圖形用戶界面(GUI)。這使得進行計量操作變得容易,減少了用戶錯誤和進行測量所需的時間。9600是一個強大的晶圓測試和計量模型,旨在幫助制造商提高其半導體生產過程的質量和效率。憑借其先進的非接觸式光學計量技術、業界領先的識別算法和通用軟件工具,用戶可以快速識別和分析晶圓表面的缺陷。
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