二手 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293641958 待售

ADE / KLA / TENCOR AFS 3220
ID: 293641958
Wafer inspection system.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220是一種晶圓測試和計量設備,為各種晶圓測試和計量要求提供了高度的準確性和可重復性。它由光學晶片計量模塊、晶片測試儀、剖面儀和數據采集系統組成。數據采集單元從測試和計量操作中獲取和存儲數據,為過程控制提供必要的數據。光學模塊具有精密的光學石英襯板,旨在為用戶提供卓越的穩定性和可重復性。它可以以各種放大倍率和粒度水平拍攝晶圓的圖像,並依賴於多層微處理器控制的成像機。該工具能夠在獲取的數據上花費包括傅立葉分析和圖像處理在內的各種類型的分析,以便為用戶提供最準確的晶圓條件測量。晶片測試模塊設計用於檢測和分析各種模具缺陷,如短路和開路、模式缺陷和電氣故障。測試儀采用高分辨率模式識別技術,允許快速可靠的缺陷檢測。它還具有以高吞吐量速率運行測試的能力,因此非常適合大批量生產要求。Profilometer模塊設計用於測量晶圓表面的輪廓以及任何其他表面特征。該剖面儀配有激光和納米幹涉儀頭,可精確測量晶圓的剖面,精度低於微米。最後,數據采集資產允許從所有其他模塊收集和存儲數據。這些數據可以用來測量晶片質量,檢測和分析缺陷,為過程控制和產量管理提供必要的信息。ADE AFS 3220模型是任何需要可靠、準確和可重復的晶圓測試和計量設備的組織的理想解決方案。它具有多種功能,提供卓越的精確度,同時仍保持堅固、經濟高效且節能的系統。
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