二手 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645321 待售

ID: 293645321
Wafer inspection system 2006 vintage.
ADE/ASF 3220是一種晶圓測試和計量設備,用於測量半導體晶圓的物理和電氣屬性,包括摻雜劑濃度。該系統包含一系列專門的儀器,設計用於執行各種與晶圓質量保證相關的任務。晶圓測試和計量系統包括一個支持萬維網的數據采集單元,該單元提供一個用戶友好的界面和一個安全、可擴展的平臺,用於從測試和計量活動中收集數據。這臺機器支持Windows和Linux等多種操作系統,並能夠自動調度多個測試和計量過程。該工具還包括用於數據處理和統計分析的強大軟件。這個資產可以使用高速掃描電子顯微鏡和先進的成像技術來分析單個或多個晶片。晶圓尺寸和形狀形狀也是重要的特性,可以用模型的自動晶圓形狀和尺寸測量工具進行測量。它還可以使用光學發光光譜法測量測試晶片中的摻雜濃度。還可以使用設備進行其他測試,如測量界面輪廓的深度剖面圖和掃描電容顯微鏡的屈服優化。該系統還與一套軟件包集成在一起,可輕松分析測試過程中收集的數據集。高級軟件庫提高了處理復雜分析任務的能力。該單元還支持多種圖形用戶界面,允許用戶快速評估晶圓表面參數和復雜的設備體系結構。總體而言,ADE/KLA/TENCOR AFS 3220晶圓測試計量機提供了全面綜合的測試能力。這種先進的工具使用戶能夠自信地測量半導體晶片的物理和電氣參數,以確保最高質量。該資產提供了一個用戶友好的界面和高級軟件分析工具,可應用於各種不同的計數和計量任務。
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