二手 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645327 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 293645327
晶圓大小: 12"
優質的: 2021
Wafer inspection system, 12"
Flatness measuring
2021 vintage.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220是一種最先進的晶圓測試和計量設備，設計用於半導體元件的高精度、高通量測量和測試。它提供了從頭到尾在整個制造過程中評估和監控半導體晶片質量的能力。該系統為晶圓測試和計量提供了一套全面的功能，並已為生產環境設計。該裝置具有高精度和高速CCD成像引擎，能夠產生高達1.6億像素分辨率的圖像。這種強大的成像引擎與高精度激光和光學機器相結合，使其能夠精確測量半導體晶片上的關鍵特征。精密激光工具可以測量小至0.4微米的特征，並正確參考晶圓表面，以實現精確的對準和可重復性。該資產通過其缺陷分析工具能夠檢測到各種半導體缺陷。它使用先進的模式識別技術來準確識別和分類各種參數中的缺陷,例如大小、形狀和位置。該模型還具有先進的Overlay and Critical Dimension （OCD）控制，使其能夠以高精度和可重復性測量模模對晶圓和模模對晶圓的偏移。這樣可以確保所有晶圓的測量都是一致和可靠的。ADE AFS 3220的一整套報告和分析工具為制造過程提供了可行的見解。它能夠提供生產、產量和質量數據的詳細統計分析,使工藝工程師能夠快速識別和解決工藝問題。設備還包括一套顯示工具,可實時顯示生產數據,從而使用戶能夠快速識別趨勢和處理問題。綜上所述，KLA AFS 3220是一個強大的晶圓測試和計量系統，能夠在生產環境中提供高精度的結果。該單元能夠檢測到一系列缺陷,其全面的報告和分析工具可準確了解制造過程。
還沒有評論