二手 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293660057 待售

ADE / KLA / TENCOR AFS 3220
ID: 293660057
晶圓大小: 12"
優質的: 2003
Wafer inspection system, 12" 2003 vintage.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220是一種高性能晶圓測試和計量設備,開發用於半導體制造等工業應用。它為精確的過程和晶圓檢驗、計量和分析提供了一套全面的特征。ADE AFS 3220設計具有強大的測量和測試接口,能夠使用廣泛的測量和測試工具,如晶圓探針、光學計量系統和其他具有高度兼容性的子系統。這允許執行各種表征任務,包括電氣表征、3D成像、臨界尺寸測量、薄膜地形和曲面拓撲測量。該系統集成了一個自動化測試單元,以幫助加快數據收集和分析。該機器還包括強大的數據分析功能,支持先進的統計技術和數據的實時分析。該工具可以執行根本原因分析、確定過程參數之間的相關性以及識別異常值。圖形用戶界面(GUI)為快速高效的數據分析提供了直觀易用的環境。KLA AFS 3220還提供晶圓分類排序功能。這允許自動晶片準備和測試過程,以及根據測試結果將晶片分類為分級組。這是大批量制造半導體器件的重要特點。為了進行流程優化,TENCOR AFS 3220集成了一個完全自動化和可重復的控制資產,其中包括一組全面的流程和設備分析工具。該模型有助於快速準確地查明工藝問題,最大限度地提高工藝產量。設備還包括用於存儲和分析每個晶圓的過程信息的高級日誌功能。總體而言,AFS 3220是一個易於使用、功能強大且可靠的系統,專為大容量工業半導體制造過程而設計。其全面的測量和測試能力、快速的數據分析以及先進的過程控制功能使其成為晶圓測試和計量的寶貴工具。
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