二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #293747925 待售

ID: 293747925
Wafer thickness gauges.
ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T是一種革命性的晶圓測試和計量設備,旨在為廣泛的應用提供精確的數據收集和分析。用戶界面允許多個級別的測量和控制,以及以各種格式導出數據的能力,包括CSV、Word和PDF。該系統由采樣級、檢測器和光學子系統三大組成。樣品階段是一個定位階段,可以在X、Y、Z維度中移動到± 25毫米,以便對樣品表面進行精確分析。該探測器是一種支持計量測量的技術,為用戶提供了諸如分辨率無與倫比的亞微米3 D映射等功能。然後使用板載軟件環境快速分析收集的數據。ADE單元先進的光學子系統提供了業界領先的分辨率和準確性的結合。根據掃描應用,機器可以在一次掃描中提供0.5 μ m的分析,直至進行全晶圓測量,以獲得極其精確的3D映射。它還包括各種光學元件如光束插件、自動對焦附件、高級成像目標和激光二極管,所有這些都可以通過先進的光學調諧進行優化。此外,該工具還具有廣泛的可編程數據記錄功能和成像功能,為用戶提供了從表面掃描和檢查到定量計量的豐富功能和可擴展性。它還包括一整套用於集成到自動化生產線的命令和功能,如自動校準、模式識別、可編程模式叠加和傾斜對齊。為了達到最大效率,資產還配備了彩色液晶觸摸屏,用於快速查看和數據處理。總體而言,ADE Microsense 6033T模型是一個先進的、完全可集成的和高度可定制的晶圓測試和計量解決方案,為生產和研究實驗室提供精確和超快的分析。憑借其強大的功能、量身定制的服務和卓越的精確度,此設備是需要可靠高效的平臺並能夠快速準確地捕獲和分析數據的用戶的理想選擇。
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