二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9272589 待售

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T設備是一種最先進的晶圓測試和計量系統,旨在實現極致性能。該單元結合了ADE Acuity檢測器和KLA WaferMapper軟件平臺的集成解決方案，使得晶圓測試和綜合計量結果具有更高的速度和靈活性。ADE Microsense 6033T包括一個先進的X射線探測器，能夠在極短的時間內捕獲分辨率高達4K的圖像。這臺機器具有可變曝光時間和動態範圍設置，允許快速準確的成像和精確的圖像處理。即使在高背景輻射的存在下，KLA Microsense 6033T的X射線探測器也能達到高達5000：1的動態範圍，即使在最具挑戰性的測試環境中也能捕捉到精確的細節。該工具由TENCOR WaferMapper軟件提供動力，允許對表面特征、粒子計數、空隙分數和其他晶圓參數進行自動檢測和測量。該軟件配備了一套高級分析工具，用於快速可靠的分析，允許用戶在測試和計量過程中快速識別潛在缺陷和其他問題。集成的ADE/KLA/TENCOR Acuity探測器ADE WaferMapper資產能夠快速、準確地進行深層晶圓映射和模具測試。該模型允許對整個晶片進行全面覆蓋，同時還提供了對單個晶片的高度詳細的分析。可用於進行廣泛的晶圓測試，包括快速光譜映射、X射線映射、拓撲映射以及表面粗糙度和特征檢測。TENCOR Microsense 6033T設備的設計符合當今晶圓測試和計量應用的苛刻要求。憑借強大的成像能力和全面的分析工具，它是快速可靠的晶圓測試和計量的理想解決方案。